8 hazbeteko siliziozko oblea P/N motako (100) 1-100Ω 1-100Ω finkoa berreskuratzeko substratua

8 hazbeteko siliziozko oblea P/N motako (100) 1-100Ω 1-100Ω dummy erreklamatzeko substratua Irudi nabarmendua

Deskribapen laburra:

Alde biko leundutako obleen inbentario handia, 50 eta 400 mm arteko diametroa duten ostia guztiak Zure zehaztapena gure inbentarioan eskuragarri ez badago, epe luzeko harremanak ezarri ditugu obleak neurrira fabrikatzeko gai diren hornitzaile askorekin, edozein zehaztapen berezietara egokitzeko.Alde biko leundutako obleak silizio, beira eta erdieroaleen industrian erabili ohi diren beste material batzuetarako erabil daitezke.

Bidali mezu elektronikoa

Produktuaren xehetasuna

Produktuen etiketak

Ostia kutxaren aurkezpena

8 hazbeteko siliziozko oblea siliziozko substratu-materiala da eta oso erabilia da zirkuitu integratuen fabrikazio-prozesuan.Horrelako siliziozko obleak zirkuitu integratu mota ezberdinak egiteko erabiltzen dira, mikroprozesadoreak, memoria txipak, sentsoreak eta beste gailu elektroniko batzuk barne.8 hazbeteko siliziozko obleak tamaina handi samarreko txipak egiteko erabiltzen dira, eta abantailak dituzte, besteak beste, azalera handiagoa eta txip gehiago egiteko gaitasuna siliziozko oblea bakarrean, produkzio eraginkortasuna areagotuz.8 hazbeteko siliziozko obleak propietate mekaniko eta kimiko onak ditu, eskala handiko zirkuitu integratuetarako egokia dena.

Produktuaren ezaugarriak

8" P/N mota, leundutako siliziozko oblea (25 pcs)

Orientazioa: 200

Erresistentzia: 0,1 - 40 ohm•cm (lote batetik bestera alda daiteke)

Lodiera: 725+/-20um

Prime/Monitor/Test kalifikazioa

MATERIALAREN PROPIETATEAK

Parametroa	Ezaugarria
Mota/Dopatzailea	P, boroa N, fosforoa N, antimonioa N, artsenikoa
Orientazioak	<100>, <111> zatitu orientazioak bezeroaren zehaztapenen arabera
Oxigeno edukia	10¹⁹ppmA Perdoi pertsonalizatuak bezeroaren zehaztapenaren arabera
Karbono Edukia	< 0,6 ppmA

PROPIETATE MEKANIKOAK

Parametroa	Lehena	Monitorea/ Proba A	Proba
Diametroa	200±0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Lodiera	725±20µm (estandarra)	725±25µm (estandarra) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (estandarra)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Arkua	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Itzulbiratu	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Ertzaren biribilketa	ERDIAK
Markatzea	Lehen mailako SEMI-Flat bakarrik, SEMI-STD Flats Jeida Flat, Notch

Parametroa	Lehena	Monitorea/ Proba A	Proba
Aurrealdeko Alboko Irizpideak
Gainazalaren egoera	Kimiko Mekanikoa Leundua	Kimiko Mekanikoa Leundua	Kimiko Mekanikoa Leundua
Gainazalaren zimurtasuna	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Kutsadura Partikulak@ > 0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Haze, Pits Laranja azala	Bat ere ez	Bat ere ez	Bat ere ez
Zerra, Marks Striazioak	Bat ere ez	Bat ere ez	Bat ere ez
Atzeko aldean irizpideak
Pitzadurak, bele-oinak, zerra-markak, orbanak	Bat ere ez	Bat ere ez	Bat ere ez
Azaleren egoera	Kaustikoa grabatua