8 hazbeteko siliziozko oblea P/N motakoa (100) 1-100Ω-ko substratu berreskuragarri faltsua

Deskribapen laburra:

Bi aldeetako oblea leunduen inbentario handia, 50 eta 400 mm arteko diametroko oblea guztiak. Zure espezifikazioa ez badago gure inbentarioan, epe luzerako harremanak ezarri ditugu hornitzaile askorekin, eta horiek edozein espezifikazio berezira egokitzeko obleak neurrira fabrikatu ditzakete. Bi aldeetako oblea leunduak siliziorako, beirarako eta erdieroaleen industrian erabili ohi diren beste material batzuetarako erabil daitezke.

Bidali mezu elektroniko bat guregana

Produktuaren xehetasuna

Produktuen etiketak

Oblea-kutxaren aurkezpena

8 hazbeteko siliziozko obleak siliziozko substratu material erabilienetako bat da eta zirkuitu integratuen fabrikazio prozesuan asko erabiltzen da. Siliziozko obleak mota askotako zirkuitu integratuetarako erabiltzen dira normalean, besteak beste, mikroprozesadoreak, memoria txipak, sentsoreak eta beste gailu elektroniko batzuk. 8 hazbeteko siliziozko obleak tamaina handiko txipak egiteko erabiltzen dira normalean, eta abantaila hauek dituzte: azalera handiagoa eta siliziozko oblea bakarrean txip gehiago egiteko gaitasuna, ekoizpen eraginkortasuna handitzea lortuz. 8 hazbeteko siliziozko obleak propietate mekaniko eta kimiko onak ere baditu, eta hori egokia da zirkuitu integratuen ekoizpen handirako.

Produktuaren ezaugarriak

8" P/N motako siliziozko oblea leundua (25 unitate)

Orientazioa: 200

Erresistentzia: 0,1 - 40 ohm•cm (Multzo batetik bestera alda daiteke)

Lodiera: 725 +/- 20um

Lehen/Monitore/Proba Kalifikazioa

MATERIALEN PROPIETATEAK

Parametroa	Ezaugarria
Mota/Dopantea	P, Boro N, Fosforo N, Antimonio N, Artsenikoa
Orientazioak	<100>, <111> bezeroaren zehaztapenen araberako ebakitze-orientazioak
Oxigeno edukia	10¹⁹ppmA Bezeroaren zehaztapenen araberako tolerantzia pertsonalizatuak
Karbono edukia	< 0,6 ppmA

PROPIETATE MEKANIKOAK

Parametroa	Lehena	Monitorea/Proba A	Proba
Diametroa	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Lodiera	725±20µm (estandarra)	725 ± 25 µm (estandarra) 450 ± 25 µm 625±25µm 1000 ± 25 µm 1300 ± 25 µm 1500±25 µm	725±50µm (estandarra)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Arkua	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Biltzeko	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Ertz biribiltzea	ERDI-ESTANDARRA
Markaketa	Lehen mailako ERDI-Laua bakarrik, ERDI-ESTANDAR Lauak Jeida Laua, Koskaduna

Parametroa	Lehena	Monitorea/Proba A	Proba
Aurrealdeko irizpideak
Gainazalaren egoera	Kimikoki Mekanikoki Leundua	Kimikoki Mekanikoki Leundua	Kimikoki Mekanikoki Leundua
Gainazaleko zimurtasuna	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Kutsadura Partikulak@ >0.3 µm	= 20	= 20	= 30
Lainoa, Zuloak Laranja azala	Bat ere ez	Bat ere ez	Bat ere ez
Zerra, Markak Ildaskak	Bat ere ez	Bat ere ez	Bat ere ez
Atzeko aldeko irizpideak
Pitzadurak, oilasko-hankak, zerra-markak, orbanak	Bat ere ez	Bat ere ez	Bat ere ez
Gainazalaren egoera	Kaustiko grabatua